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M-Z光學(xué)干涉儀
- 產(chǎn)品型號：
- 更新時間：2024-06-19
- 產(chǎn)品介紹：M-Z光學(xué)干涉儀通過比較被測物和參考物的相位（表現(xiàn)為條紋的變化），從而實現(xiàn)被測物的物理量的測量。
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產(chǎn)品介紹
M-Z光學(xué)干涉儀產(chǎn)品說明：
馬赫-曾德干涉儀屬于一種等光程比較干涉。通過比較被測物和參考物的相位（表現(xiàn)為條紋的變化），從而實現(xiàn)被測物的物理量的測量。馬赫-曾德干涉儀通常用于測量透明介質(zhì)折射率的微小變化，可用于氣體、液體、透明固體、沖擊波及熱傳導(dǎo)等方面的研究。
M-Z光學(xué)干涉儀技術(shù)參數(shù)：
參數(shù) | 大值 | 小值 | 備注 |
視場 | Φ500mm | Φ50mm | |
干涉條紋間距 | 無窮大 | 0.1mm | |
圖像分析軟件 | 滿足干涉條紋背景濾波、二值化、細化與修像、標(biāo)記、采樣讀數(shù)、物理參數(shù)計算讀取等功能 | ||
成像傳感器 | 數(shù)碼單反相機、高速相機、記錄干板 | ||
光源 | 532nm激光光源、632.8nm激光光源 | ||
其他 | 系統(tǒng)采用有效的減振方式 | ||
